Tá tástáil chomhtháite ciorcad ríthábhachtach d’fheidhmiúlacht fhormhór na bhfeistí leictreonacha. Is féidir micreascóip, mar a thugtar ciorcaid chomhtháite orthu, a fháil i ríomhairí, teileafóin phóca, gluaisteán, agus beagnach aon rud ina bhfuil comhpháirteanna leictreonacha. Gan tástáil a dhéanamh orthu roimh an suiteáil dheiridh agus a bheith suiteáilte ar chlár ciorcad, thiocfadh go leor gairis neamhfheidhmiúla nó scoirfidís de bheith ag feidhmiú níos luaithe ná na saolta a bhfuil súil leo. Tá dhá phríomhchatagóir de thástáil chiorcaid chomhtháite, tástáil wafer agus tástáil ar leibhéal an bhoird. Ina theannta sin, féadfaidh na tástálacha a bheith bunaithe ar struchtúr nó ar fheidhm.
Déantar tástáil wafer, nó wafer probing, ag an leibhéal táirgeachta, sula ndéantar an sliseanna' s a shuiteáil ina cheann scríbe deiridh. Déantar an tástáil seo trí úsáid a bhaint as trealamh tástála uathoibrithe (ATE) ar an sliseog sileacain iomlán as a ngearrfar bás cearnach na sceallóga. Sula ndéantar é a phacáistiú, déantar an tástáil dheiridh ar leibhéal an bhoird, agus an ATE céanna nó a mhacasamhail á úsáid leis an tástáil sliseog.
